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  • 華測半導(dǎo)體封裝材料高低溫真空探針臺(tái)
    華測半導(dǎo)體封裝材料高低溫真空探針臺(tái)

    更新時(shí)間：2024-12-12

    型號(hào)：

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    華測半導(dǎo)體封裝材料高低溫真空探針臺(tái)，溫度范圍77K-675K(液氮)；可應(yīng)用于真空及常規(guī)環(huán)境；超高溫度分辨率；特殊客制低溫系統(tǒng)；具有較好穩(wěn)定性
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  • Huace-6S半導(dǎo)體封裝材料高低溫探針臺(tái)
    Huace-6S半導(dǎo)體封裝材料高低溫探針臺(tái)

    更新時(shí)間：2024-12-12

    型號(hào)：Huace-6S

    瀏覽量：1199

    半導(dǎo)體封裝材料高低溫探針臺(tái)，可用于12英寸以內(nèi)樣品測試，采用密閉腔結(jié)構(gòu)，屏蔽外部電信干擾同時(shí)保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無結(jié)霜。
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  • Huace-8 綜合性分析探針臺(tái)
    Huace-8 綜合性分析探針臺(tái)

    更新時(shí)間：2024-12-12

    型號(hào)：

    瀏覽量：1543

    Huace-8 綜合性分析探針臺(tái)zd可用于12英寸以內(nèi)樣品測試； 操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn)； 可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
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  • Huace-8D 雙面探針臺(tái)
    Huace-8D 雙面探針臺(tái)

    更新時(shí)間：2024-12-12

    型號(hào)：

    瀏覽量：1236

    Huace-8D 雙面探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測試需求的測試設(shè)備。
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