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改性塑料試驗設(shè)備

電壓擊穿試驗儀耐電弧測試儀絕緣電阻試驗儀電弱點試驗儀電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng) 高壓、低壓漏電起痕試驗儀 50點耐壓測試儀

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HCWP-1000高溫介電溫譜儀/絕緣電阻

更新時間：2024-08-01

型號：HCWP-1000

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本高溫介電溫譜儀/絕緣電阻主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體，可測試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜Co-Co圖，機電耦合系數(shù)等，同時可分析被測樣品隨溫度，頻率，時間變化的曲線，測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。
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HCDH-3華測一體式耐電弧試驗儀

更新時間：2024-12-12

型號：HCDH-3

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華測一體式耐電弧試驗儀是專門為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設(shè)備，適于用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸姸?和耐電壓時間的測試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。根據(jù)GB 1411-78《固體電工絕緣材料高壓小電流間歇耐電弧試驗方法》IEC 61621及ASTM D495設(shè)計、制造的
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HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗儀*

更新時間：2024-12-12

型號：HCDH-4

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硅橡膠耐電弧試驗儀*是根據(jù) GB/T 1411-2002《固體絕緣材料耐高壓低電流電弧放電的試驗》（等同 IEC 61621-1997）及 ASTM D495 等標(biāo)準(zhǔn)的要求設(shè)計制造的，并符合 IEC 149、UL 746A 等試驗方法。本儀器由絕緣標(biāo)準(zhǔn)制定單位全國絕緣材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會監(jiān)制。主要用于電機、電器及家電等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆
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HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗測試儀器

更新時間：2024-12-12

型號：HCDH-4

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HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗測試儀器是專門為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設(shè)備，適于用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在高電壓小電流條件下的測試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。
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HCDH-4北京華測耐電弧試驗儀

更新時間：2024-12-12

型號：HCDH-4

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HCDH-4北京華測耐電弧試驗儀是專門為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設(shè)備，適于用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在高電壓小電流條件下的測試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。
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HCDH -4耐電弧試驗儀

更新時間：2024-12-12

型號：HCDH -4

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HCDH-4耐電弧試驗儀是專門為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設(shè)備，適于用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在高電壓小電流條件下的測試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。
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HCWP-S高低溫介電溫譜測試儀器

更新時間：2024-12-08

型號：HCWP-S

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高低溫介電溫譜測試儀器適用于鐵電壓電陶瓷材料、各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。用于分析寬頻、高低溫條件下被測樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、因數(shù)Q等物理量。該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機金屬新材料的應(yīng)用研究科研機關(guān)、高校、工廠等地方。
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HCRD-300電弱點測試儀器

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電弱點測試儀器主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點測試。該系列產(chǎn)品的主要特點是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點的測試，測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對測試結(jié)果的影響。測試數(shù)據(jù)能真實地反映薄膜的質(zhì)量水平。
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