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改性塑料試驗(yàn)設(shè)備

電壓擊穿試驗(yàn)儀耐電弧測(cè)試儀絕緣電阻試驗(yàn)儀電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) 高壓、低壓漏電起痕試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀

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低壓漏電起痕/絕緣材料測(cè)試儀

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低壓漏電起痕/絕緣材料測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（2mm×5mm）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)（30S）定高度（35mm）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%NH4CL），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)（CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）。
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Huace1200G華測(cè)高溫絕緣電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2023-12-01

型號(hào)：Huace1200G

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HCRD-300薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-12-16

型號(hào)：HCRD-300

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薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀器通過(guò)人機(jī)對(duì)話(huà)方式，本產(chǎn)品是根據(jù)IEC 60674-2:2009 電氣用塑料薄膜第2部分：試驗(yàn)方法及其第1次修正（2001）和 GB/T13542-92《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》而設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。
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HCWP-1000高溫新材料檢測(cè)—高溫介電溫譜儀測(cè)試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-06-04

型號(hào)：HCWP-1000

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高溫新材料檢測(cè)—高溫介電溫譜儀測(cè)試系統(tǒng)從專(zhuān)業(yè)角度來(lái)說(shuō)，其實(shí)就是高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)。是為了滿(mǎn)足材料在高溫環(huán)境下的介電測(cè)量需求而設(shè)計(jì)的。主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測(cè)試。
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Huace-DCS10KV電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)/其他

更新時(shí)間：2024-06-04

型號(hào)：Huace-DCS10KV

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電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)/其他采用特殊高壓開(kāi)關(guān)，通過(guò)單刀雙擲控制充電和放電過(guò)程，開(kāi)關(guān)可以承受10kV高壓，寄生電容小，動(dòng)作時(shí)間短。
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HCNDH-4耐電弧測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-08-30

型號(hào)：HCNDH-4

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耐電弧測(cè)試儀是專(zhuān)門(mén)為電氣絕緣材料測(cè)試而開(kāi)發(fā)的高精密設(shè)備，絕緣材料抵抗由高壓電弧作用引起變質(zhì)的能力，通常用標(biāo)準(zhǔn)電弧焰在材料表面引起炭化至表面導(dǎo)電而電弧消失所需時(shí)間表示，單位是秒。
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HCRD-300計(jì)算機(jī)控制儀器——電弱點(diǎn)測(cè)試儀

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型號(hào)：HCRD-300

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HCWP-1000介電溫譜測(cè)試儀高溫爐膛阻抗分析儀測(cè)試夾具

更新時(shí)間：2024-12-08

型號(hào)：HCWP-1000

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介電溫譜測(cè)試儀高溫爐膛阻抗分析儀測(cè)試夾具，為了滿(mǎn)足材料在高溫環(huán)境下的介電測(cè)量需求而設(shè)計(jì)的。從專(zhuān)業(yè)角度來(lái)說(shuō)，其實(shí)就是高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)。主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測(cè)試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測(cè)試軟件于一體.
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