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絕緣材料測(cè)試儀器

擊穿電壓測(cè)定儀表面體積電阻率測(cè)試儀耐電弧測(cè)試儀高壓/漏電起痕試驗(yàn)儀低壓/漏電起痕試驗(yàn)儀導(dǎo)電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀高溫直流測(cè)試系統(tǒng)

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時(shí)間自由設(shè)定高溫直流電阻率測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備優(yōu)勢(shì)： 1、采用超低紋波系數(shù)高壓直流電源，保證測(cè)試電壓的穩(wěn)定度。 2、保障試驗(yàn)人員及試驗(yàn)設(shè)備的； 3、采用吉時(shí)利6585皮安表采集電流，采集精度高，量程自動(dòng)跟隨與切換，可以實(shí)時(shí)采集電壓、電流、電阻曲線； 4、具備升壓、恒壓等功能于一體，對(duì)于研究常溫與高溫下材料的電阻率極為方便；
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自動(dòng)歸零高溫直流電阻率測(cè)試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-06-13

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自動(dòng)歸零高溫直流電阻率測(cè)試系統(tǒng)適合范圍： ●GB/T 10581-2006 絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法 ●DL/T 810-2002 ±500kV直流棒形懸式復(fù)合絕緣子技術(shù)條件
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自動(dòng)生成報(bào)表高溫直流電阻率測(cè)試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2023-08-29

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HC2661型手持式四探針測(cè)試儀器

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HC2661型手持式四探針測(cè)試儀器可測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測(cè)試的要求，也可對(duì)分立電阻進(jìn)行測(cè)量，USB接口可為用戶提供遠(yuǎn)程控制及測(cè)試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應(yīng)固定場(chǎng)合對(duì)元器件進(jìn)行檢測(cè)，又可隨身攜帶以滿足測(cè)試人員的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試要求。
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HC2810B型LCR數(shù)字電橋檢測(cè)儀器

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HC2810B型LCR數(shù)字電橋檢測(cè)儀器是一種測(cè)試速度快、精度高、測(cè)試范圍寬的通用阻抗測(cè)量儀器。四個(gè)測(cè)試頻率點(diǎn)，Z高至10kHz, 30Ω 、100Ω兩種不同信號(hào)源輸出阻抗可使儀器測(cè)量結(jié)果與眾多LCR結(jié)果相，同時(shí)也能適應(yīng)陶瓷電容器對(duì)測(cè)量電平的要求。
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HC2826型LCR數(shù)子電橋檢測(cè)儀器

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HC2826型LCR數(shù)子電橋檢測(cè)儀器： HC2826系列元件測(cè)試儀是*臺(tái)符合LXI標(biāo)準(zhǔn)的新一代阻抗測(cè)試儀器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料絕大部分低壓參數(shù)的測(cè)量要求，可廣泛應(yīng)用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變?nèi)荻O管、變壓器等進(jìn)行諸多電氣的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測(cè)量。
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HC2825A型高速數(shù)子電橋檢測(cè)儀器： HC2825A型高速LCR數(shù)字電橋是本公司重點(diǎn)推出的新一代元件參數(shù)測(cè)試儀器。該產(chǎn)品可提供高達(dá)15ms/次的測(cè)量速度、50Hz100kHz十點(diǎn)測(cè)試頻率、以1mV步進(jìn)的0.01V-1.0V可編程信號(hào)電平、5位讀數(shù)分辨率、多種源內(nèi)阻選擇和測(cè)試功能,可滿足生產(chǎn)線質(zhì)量保證、進(jìn)貨檢驗(yàn)及元件設(shè)計(jì)和評(píng)估的測(cè)量要求。
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HC多功能/LCR數(shù)字電橋檢測(cè)儀器

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多功能/LCR數(shù)字電橋檢測(cè)儀器產(chǎn)品簡(jiǎn)介具有多種功能和高測(cè)試頻率的LCR數(shù)字電橋，體積小，緊湊便攜，便于上架使用。本系列儀器基本精度為0.05%，測(cè)試頻率Z高1MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面
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